美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗
| 更新時間:2024-01-22 | 廠商性質:代理商 |
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本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統，從而得到高質量和高精度的數據。
同時，TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精性。3330不僅可以單獨使用，而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
產品特點：
美國TSI 3330光學顆粒物粒徑譜儀 技術參數
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
很高3,000個/ cm3 （3,000,000個/L）
質量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm
粒徑分辨率：0.5mm時5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：很多16通道，用戶可調
